測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度。測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測厚儀測量時的注意事項：
1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
2、測量時側頭與試樣表面保持垂直。
3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
Nanocalc系列測厚儀的特點：
1、UV/VIS/NIR高分辨率的配置
2、測量準確度在1nm，精度在0.1nm
3、可測量4層薄膜的任意3層
4、薄膜測量zui小可至10nm，zui大可至400um
5、可測量zui小1nm厚的透明金屬層
6、提供用于復雜外形材料測量的試驗臺及附件
7、對表面缺陷和光滑度不敏感
8、龐大的材質數據庫，保證各種材料的測量
